芯成半导体（上海）有限公司 main business:设计、委托加工超大规模集成电路半导体产品和应用系统及制作相关软件，销售自产产品，提供相关技术服务，以及为本公司及其投资者所拥有、控制或关联企业提供经营决策和管理咨询服务、财务管理服务、提供产品采购的质量控制和管理服务、信息服务及员工管理服务以及相关商务咨询服务。【依法须经批准的项目，经相关部门批准后... and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
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- 2000-09-15 至 永久
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- 设计、委托加工超大规模集成电路半导体产品和应用系统及制作相关软件，销售自产产品，提供相关技术服务，以及为本公司及其投资者所拥有、控制或关联企业提供经营决策和管理咨询服务、财务管理服务、提供产品采购的质量控制和管理服务、信息服务及员工管理服务以及相关商务咨询服务。【依法须经批准的项目，经相关部门批准后...
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN106205715A | 闪存的操作方法 | 2016.12.07 | 本发明涉及半导体器件，公开了一种闪存的操作方法。本申请中，在对闪存单元执行读取操作时，同一行的选择栅 |
| 2 | CN104037174B | 混合结构的存储器阵列及其制备方法 | 2016.09.07 | 本发明涉及半导体器件领域，公开了一种混合结构的存储器阵列及其制备方法。在本发明的混合结构的存储器阵列 |
| 3 | CN103514954B | 闪存的擦除方法、读取方法及编程方法 | 2016.08.17 | 本发明涉及半导体器件领域，公开了一种闪存的擦除方法、读取方法及编程方法。本发明中，该闪存在执行擦除操 |
| 4 | CN102831927B | 进入ASRAM芯片内部测试模式的电路 | 2015.04.01 | 本发明的进入ASRAM芯片内部测试模式的电路，包括地址代码比较器，用于检测ASRAM芯片中地址线上的 |
| 5 | CN102820045B | 地址转变检测电路 | 2015.03.11 | 本发明公开了一种地址转变检测电路，包括两个相同的地址转变检测信号产生装置、反相器和信号合成装置。两个 |
| 6 | CN102831934B | 进入ASRAM芯片内部测试模式的方法 | 2015.03.11 | 本发明公开了一种进入ASRAM芯片内部测试模式的方法，包括：步骤一，当ASRAM芯片的写周期使能脚输 |
| 7 | CN104157307A | 闪存及其读取方法 | 2014.11.19 | 本发明涉及半导体器件，公开了一种闪存及其读取方法。本发明中，该闪存中的每个闪存单元包含一个选择栅PM |
| 8 | CN104078082A | 用于测试存储器件的电路和方法 | 2014.10.01 | 本申请涉及一种用于测试存储器件的电路和方法。存储器件具有可由多个地址线寻址并且可由多个数据线输入/输 |
| 9 | CN104037174A | 混合结构的存储器阵列及其制备方法 | 2014.09.10 | 本发明涉及半导体器件领域，公开了一种混合结构的存储器阵列及其制备方法。在本发明的混合结构的存储器阵列 |
| 10 | CN103514954A | 闪存的擦除方法、读取方法及编程方法 | 2014.01.15 | 本发明涉及半导体器件领域，公开了一种闪存的擦除方法、读取方法及编程方法。本发明中，该闪存在执行擦除操 |
| 11 | CN102831927A | 进入ASRAM芯片内部测试模式的电路 | 2012.12.19 | 本发明的进入ASRAM芯片内部测试模式的电路，包括地址代码比较器，用于检测ASRAM芯片中地址线上的 |
| 12 | CN102831934A | 进入ASRAM芯片内部测试模式的方法 | 2012.12.19 | 本发明公开了一种进入ASRAM芯片内部测试模式的方法，包括：步骤一，当ASRAM芯片的写周期使能脚输 |
| 13 | CN102820045A | 地址转变检测电路 | 2012.12.12 | 本发明公开了一种地址转变检测电路，包括两个相同的地址转变检测信号产生装置、反相器和信号合成装置。两个 |
| 14 | CN1540666A | 可动态配置的内容可寻址存储器系统 | 2004.10.27 | 一种可动态配置的内容可寻址存储器(CAM)系统，包括可链结起来形成CAM子系统的CAM模块。每个CA |
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